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測(cè)角臺(tái)系統(tǒng)是透射電子顯微鏡(TEM)極其重要的硬件之一。無論是早期的頂插式還是目前主流的側(cè)插式,都需要操作人員手動(dòng)將樣品桿插入或拔出測(cè)角臺(tái)。這種傳統(tǒng)的操作方式,易出錯(cuò)且非常依賴實(shí)驗(yàn)人員的操作熟練度,已經(jīng)無法滿足現(xiàn)階段材料研究和工業(yè)分析領(lǐng)域簡(jiǎn)便高效、高通量的分析需求。日本電子場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-F200全新的測(cè)角臺(tái)系統(tǒng)了傳統(tǒng)的操作方式,實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)進(jìn)出樣品桿,并且兼顧了超高精度和穩(wěn)定性,是電鏡技術(shù)發(fā)展歷程中一個(gè)里程碑式的變革。插拔樣品桿作為透射電鏡操作的入門課程,傳統(tǒng)的...